در دنیای پویای الکترونیک دیجیتال، ترانزیستور MOSFET به عنوان یک جزء کلیدی و بنیادین شناخته میشود که نقش محوری در طراحی و عملکرد مدارهای مجتمع ایفا میکند. از مقدمه تا پیشرفتهترین مفاهیم، درک ساختار و رفتار این قطعه برای مهندسان و دانشجویان این حوزه از اهمیت بالایی برخوردار است.
ترانزیستور MOS که مخفف ترانزیستور اثر میدانی نیمه هادی اکسید فلز است، با بررسی مقطع فناوری CMOS قابل درک است. این ساختار، اساس مفهوم ولتاژ آستانه را شکل میدهد که تعیینکننده آغاز هدایت جریان در ترانزیستور است.

نحوه عملکرد ترانزیستور MOS بر پایه توانایی آن در ایجاد یک کانال برای عبور جریان بین سورس و درین است. با اعمال ولتاژ مناسب به پایه گیت، این کانال شکل گرفته و اجازه عبور حاملهای بار را میدهد.
ترانزیستور NMOS با اعمال ولتاژ کوچک به درین و سورس، وارد ناحیه هدایت میشود و جریان بین این دو ترمینال برقرار میگردد. رابطه جریان و ولتاژ در MOSFET، رفتار الکتریکی این قطعه را توصیف میکند که برای تحلیل مداری ضروری است.
نوع فایل: پاورپوینت – 77 اسلاید
فهرست مطالب:
- الکترونیک دیجیتال
- ترانزیستور MOS
- نحوه عملکرد ترانزیستور MOS
- ایجاد کانالی برای عبور جریان
- ترانزیستور NMOS
- اعمال ولتاژ کوچک به درین و سورس
- رابطه جریان و ولتاژ در MOSFET
- افزایش ولتاژ VDS و تغییر شکل کانال
- اشباع ترانزیستور NMOS
- نواحی کاری ترانزیستور MOSFET
- بدست آوردن رابطه جریان و ولتاژ ترانزیستور MOSFET
- جریان در ناحیه تریود
- جریان در ناحیه اشباع
- تکنولوژی زیر میکرونی (Sub Micron)
- ترانزیستور MOSFET با کانال p (PMOS)
- ترانزیستور CMOS
- شمای ترانزیستورهای MOS
- شمای ترانزیستور NMOS
- عملکرد ترانزیستور در ناحیه زیر ولتاژ آستانه
- مشخصه iD–VDS ترانزیستور MOSFET
- ناحیه قطع، تریود و اشباع در MOSFET
- مقاومت کانال در ناحیه تریود
- مقاومت خروجی در ناحیه اشباع
- مدل ترانزیستور با در نظر گرفتن مقاومت خروجی
- ترانزیستور PMOS و نماد مداری آن
- اثر بدنه (Body Effect)
- اثر حرارت بر پارامترهای ترانزیستور
- شکست و محافظت از ورودی MOSFET
- ترانزیستور تخلیهای (Depletion MOSFET)
- انواع ترانزیستور MOS و نمادها
- اثر بدنه و ولتاژ آستانه
- ولتاژ آستانه ترانزیستور MOS
- مدل ترانزیستور برای تحلیل دستی
- مدل سوئیچ–مقاومت برای MOSFET
- مثال محاسبه مقاومت معادل ترانزیستور
- رفتار دینامیکی ترانزیستور MOS
- خازنهای پارازیتی در ترانزیستور MOS
- خازن ناحیه گیت در MOSFET
- خازن ساختاری و همپوشانی گیت
- خازن کانال در نواحی مختلف کاری
- تغییرات خازن کانال با ولتاژ
- مقدار متوسط خازن گیت
- خازن ناحیه پیوند (Junction Capacitance)
- مدل خازنهای ترانزیستور MOS
- مقاومت سورس–درین و اثرات آن
- کاهش مقاومت سورس–درین (Silicidation)
- عوامل درجه دوم در MOSFET
- اشباع سرعت در ترانزیستور کانال کوتاه
- مدل ساده شده برای اشباع سرعت
- تغییرات ولتاژ آستانه در ترانزیستورهای کانال کوتاه
- مدل معادل Latchup در CMOS
قیمت: 60/500 تومان
با افزایش ولتاژ درین-سورس (VDS)، شکل کانال تغییر کرده و در نهایت ترانزیستور NMOS به ناحیه اشباع میرسد. در این حالت، جریان خروجی با وجود افزایش VDS تقریباً ثابت میماند.
مطالب مرتبط
- دانلود ppt پاورپوینت حفاظت ترانسفورماتور در 101 اسلاید
نواحی کاری ترانزیستور MOSFET شامل قطع، تریود (خطی) و اشباع است که هر یک دارای معادلات جریان و ولتاژ مخصوص به خود هستند. بدست آوردن رابطه جریان و ولتاژ ترانزیستور MOSFET، امکان طراحی دقیق مدارات را فراهم میآورد.
در ناحیه تریود، جریان متناسب با ولتاژهای اعمالی تغییر میکند و مقاومت کانال نقش مهمی ایفا میکند. اما در ناحیه اشباع، به دلیل پینچآف شدن کانال، جریان به حداکثر خود میرسد و کنترل اصلی توسط ولتاژ گیت-سورس انجام میشود.
با ظهور فناوری زیر میکرونی، ابعاد ترانزیستورها به طور چشمگیری کاهش یافت که این امر چالشها و فرصتهای جدیدی را به همراه داشت. در کنار NMOS، ترانزیستور MOSFET با کانال p (PMOS) نیز اهمیت یافته و ترکیب آنها ترانزیستور CMOS را میسازد.
شمای ترانزیستورهای MOS و به ویژه شمای ترانزیستور NMOS، نمادهای مداری استاندارد برای این قطعات هستند. علاوه بر این، عملکرد ترانزیستور در ناحیه زیر ولتاژ آستانه نیز، به ویژه در طراحی مدارهای کم مصرف، حائز اهمیت است و مشخصه جریان–ولتاژ درین-سورس (iD–VDS) به طور کامل رفتار آن را نمایش میدهد.
در ناحیه تریود، مقاومت کانال به دلیل ایجاد کانال رسانا شکل میگیرد. در مقابل، مقاومت خروجی در ناحیه اشباع به دلیل اثرات طول کانال و مدولاسیون طول کانال پدیدار میشود که باید در مدلسازی ترانزیستور لحاظ گردد.
مدل ترانزیستور با در نظر گرفتن مقاومت خروجی، دقت تحلیلهای مداری را افزایش میدهد. ترانزیستور PMOS و نماد مداری آن، تکمیلکننده خانواده MOSFET در مدارهای دیجیتال هستند.
اثر بدنه یا “بادی افکت” (Body Effect)، تغییر ولتاژ آستانه را تحت تاثیر ولتاژ سورس به بدنه توضیح میدهد. علاوه بر این، اثر حرارت بر پارامترهای ترانزیستور، پایداری عملکرد آن را در دماهای مختلف تعیین میکند. شکست و محافظت از ورودی MOSFET نیز برای اطمینان از عمر طولانی و عملکرد صحیح قطعه حیاتی است.
ترانزیستور تخلیهای (Depletion MOSFET) نوع دیگری از این خانواده است که رفتار متفاوتی نسبت به نوع افزایشی دارد. شناخت انواع ترانزیستور MOS و نمادهای آنها، درک جامعی از کاربردها ارائه میدهد و اثر بدنه و ولتاژ آستانه از پارامترهای کلیدی در تحلیل این قطعات محسوب میشوند.
ولتاژ آستانه ترانزیستور MOS، پایه و اساس تعیین وضعیت روشن و خاموش بودن آن است. مدل ترانزیستور برای تحلیل دستی، از جمله مدل سوئیچ–مقاومت برای MOSFET، ابزاری ساده اما موثر برای تحلیل سریع مدارات فراهم میآورد. مثال محاسبه مقاومت معادل ترانزیستور، کاربرد عملی این مدلها را به خوبی نشان میدهد.
رفتار دینامیکی ترانزیستور MOS به دلیل وجود خازنهای پارازیتی، از جمله خازن ناحیه گیت در MOSFET، پیچیدگیهای خاص خود را دارد. خازن ساختاری و همپوشانی گیت نیز به این خازنها افزوده میشود.
خازن کانال در نواحی مختلف کاری متفاوت است و تغییرات خازن کانال با ولتاژ، بر سرعت سوئیچینگ تاثیر میگذارد. مقدار متوسط خازن گیت، خازن ناحیه پیوند (Junction Capacitance) و خازن نفوذی در MOSFET، همگی در مدل خازنهای ترانزیستور MOS لحاظ میشوند.
مقاومت سورس–درین و اثرات آن میتواند بر کارایی ترانزیستور تاثیر بگذارد و کاهش مقاومت سورس–درین از طریق روشهایی مانند سیلیسیداسیون (Silicidation) اهمیت دارد. عوامل درجه دوم در MOSFET، مانند پدیدههایی در ترانزیستور MOS زیر میکرونی، اشباع سرعت در ترانزیستور کانال کوتاه و تغییرات ولتاژ آستانه در این ترانزیستورها، پیچیدگیهای عملکردی را افزایش میدهند. کاهش سد ناشی از درین (DIBL) و پدیده لچآپ در مدارهای CMOS، از دیگر چالشهای مهم در طراحی مدارات دیجیتال محسوب میشوند.
در نهایت، مدلهای اسپایس برای ترانزیستور MOS ابزارهای شبیهسازی قدرتمندی را فراهم میآورند. این مدلها شامل پارامترهای اصلی اسپایس MOS، پارامترهای اسپایس برای خازنهای پارازیتی و پارامترهای ترانزیستور در اسپایس هستند. تکامل فناوری در ترانزیستورهای MOS و تغییرات فرایند در فناوری ساخت، همواره بر روی عملکرد و تاثیر تغییرات قطعه بر تاخیر مدارهای دیجیتال اثرگذار است.